<var id="n7jjn"><dl id="n7jjn"><progress id="n7jjn"></progress></dl></var>
<var id="n7jjn"></var><var id="n7jjn"></var>
<menuitem id="n7jjn"></menuitem>
<menuitem id="n7jjn"></menuitem>
<var id="n7jjn"></var>
<var id="n7jjn"></var>
<var id="n7jjn"><strike id="n7jjn"></strike></var>
<var id="n7jjn"><dl id="n7jjn"></dl></var> <menuitem id="n7jjn"></menuitem>
<menuitem id="n7jjn"></menuitem><menuitem id="n7jjn"><dl id="n7jjn"><progress id="n7jjn"></progress></dl></menuitem><var id="n7jjn"><strike id="n7jjn"></strike></var>
<var id="n7jjn"></var><var id="n7jjn"><strike id="n7jjn"><progress id="n7jjn"></progress></strike></var>
<var id="n7jjn"><strike id="n7jjn"><listing id="n7jjn"></listing></strike></var>
欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业集成电路测试网-芯片测试技术-ic test

海尔爱国者Hi2010MPEG-2信源解码芯片的测试解决方

时间:2006-10-27 09:38来源:www.www.persheens.com 作者:ictest8 点击:

  前言

      消费类电子产品的创新和发展为半导体产业的扩张和进步带来了一次又一次的契机,同时也带来了新的挑战。随着我国数字电视标准的实施与推广,众多IC设计与测试厂商正在这一领域寻找新的商机。海尔公司,作为中国家电业的领导者之一,其旗下的北京海尔集成电路设计有限公司已经成功地开发出了针对数字电视应用的信源解码芯片爱国者Hi2010。而作为全球领先的半导体测试设备厂商,安捷伦科技通过与海尔的密切配合,成功地在安捷伦SOC93000测试系统上开发出了该芯片的测试解决方案。目前,通过海尔、安捷伦以及下游封测厂商的共同努力,该芯片已经成功量产,创造了国产数字电视芯片从设计、生产、测试到走向市场的成功范例。

Hi2010芯片的主要特点及其对测试的需求

海尔的Hi2010为QFP208封装,具有如下的功能??橥迹?/p>

      Hi2010为信源解码芯片,从测试的角度进行分析,我们可以看出,Hi2010内部集成了视频DAC,PLL、MPEG、MPU、DSP、视频编码器、CA标准解扰??楹妥址夹畏⑸?,具有典型的SOC芯片特征。因此,其测试项目应包括DC/AC参数测试、功能测试(针对MPEG,MPU和DSP等???、存储器测试、视频DAC测试和PLL测试等。

      安捷伦SOC93000测试系统的硬件配置方案

      安捷伦SOC93000系列测试系统从低端的C200e到高端的P1000和NP系列产品,其最高测试速度可由C200e的200MHz,到P1000的1GHz,直到NP系列的2.5G。同时,其模拟选件丰富,并且全系列兼容,为不同的应用提供了最优的选择。

      Hi2010具有多个数字功能??楹屯馕萁涌?其主要功能是将MPEG数据流通过DAC转换成相应的视频信号。由于Hi2010采用了成熟的DFT技术,对于其功能??楹湍谇妒酱娲⑵鞯难橹?,可以通过扫描链测试和BIST实现,其芯片的数字管脚不超过180,最高测试频率不超过100MHz,因此,我们选择了小头(512PIN)的C200e系统作为测试平台,以满足测试速度和DUAL-SITE测试的需求。Hi2010有三个内置的DAC通道,在实际应用中分别处理三路视频信号,均为10位精度,工作频率为0~10MHz,SOC93000的波形采样器WDA(40M/12BITS)即可满足测试要求。对其PLL的测试,SOC93000的时隙分析器TIA即可完成。

      根据Hi2010的测试需求和SOC93000系统的特点,安捷伦科技提出了DUAL-SITE测试方案(如下图):

 

●小头的C200e系统(384数字通道+模拟选件)一提供足够数字通道
●16个DPS通道一为DUAL-SITE配置提供足够的电源通道
●双WDA??榕渲靡宦鉊AC的DUAL-SITE并行测试
●GP-TIA-DUAL-SITE共享资源

      值得一提的是,SOC93000的模拟选件WDA的结构非常适用于多通道DAC的测试。如下图所示,每一个WDA??樘峁┝硕嗦返牟馐酝ǖ澜涌?,在单边测试中,A+、A-、B+、B-、C+、C-、D+、D-均可作为模拟信号的输入通道,与芯片的模拟输出管脚相连,通道之间的切换可以通过WDA内置的继电器方便地实现。在差分测试中,A+/A-、B+/B-、C+/C-、D+/D-又可以作为四组差分输入通道,同样,WDA内置的继电器可以实现通道间的切换。这样,在多路DAC测试过程中,芯片的模拟输出管脚可以与WDA的多路接口直接相接,免除了LOADBOARD上继电器的引入,简化了设计也提高了测试过程中的稳定性

。

      Hi2010芯片在安捷伦SOC93000上的测试方案

      基于Hi2010的测试需求,海尔和安捷伦的工程师共同确定了测试方案并予以实施。在整个测试流程中,主要测试项目及其意义如下:

DC测试

●连接性测试--测试芯片的封装质量极其与测试系统的连接特性。
●漏电流--测试芯片输入管脚的漏电流。
●工作电流测试--测试芯片在工作状态下的耗电流。Hi2010具有多个IP核,我们分别进行了各个IP核的工作电流测试。
●输出高低电平测试一测试芯片输出管脚的负载能力。

功能测试

●由于芯片的DFT设计,其功能测试由扫描链测试(ATPG向量)替代。扫描链测试验证了芯片内部各个门电路的功能。

存储器测试

●通过BIST向量实现。

DAC测试(每个芯片具有3个内胃DAC,需要分别进行测试)

●INL/DNL--测试DAC的静态特性。
●SNR/THD--测试DAC的动态特性,频率测试点在此0-10MHz之间,由设计工程师指定。
●频率响应--测试DAC在工作频带内的频率特性。选择在0-10MHz之间的多个频率点,测试其输出增益。

PLL测试

●JITTER
●FREQUENCY

本文从海尔的Hi2010芯片开始,分析了数字电视芯片对测试的需求,进而介绍了Hi2010芯片在安捷伦SOC93000测试系统卜的测试解决方案。

顶一下
(2)
100%
踩一下
(0)
0%
------分隔线----------------------------
发表评论
请自觉遵守互联网相关的政策法规,严禁发布色情、暴力、反动的言论。
评价:
用户名: 验证码: 点击我更换图片

Fatal error: Allowed memory size of 134217728 bytes exhausted (tried to allocate 7134064 bytes) in /www/wwwroot/wap.yasese004.com/g.php on line 20
快3网