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  • [测试基础理论] LDO的PSRR参数的几种测量方法 日期:2021-07-15 18:38:03 点击:55 好评:0

    LDO的PSRR参数是Power Supply Rejection Ratio的缩写,即电源纹波抑制比。它是指输入纹波与输出纹波的比值,通常是以对数形式表示。 PSRR=20*log[Ripple(VIN)/Ripple(VOUT)] 单位为分贝(dB)。例如,PSR...

  • [测试理论] SCAN-比知道多一点 日期:2018-10-27 19:08:33 点击:2451 好评:50

    我们都知道,SCAN的fail,对应于制造过程中出现的defect。所以一些EDA厂商,会有scan diagnosis的工具。这些工具结合芯片的逻辑设计和物理结构,并给它足够的scan fail cycle的信息,能够定位...

  • [测试基础理论] 集成电路芯片测试小结 日期:2018-06-14 09:41:22 点击:6948 好评:175

    半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容...

  • [测试基础理论] 什么是拉电流 、灌电流、吸收电流 ? 日期:2018-06-13 09:20:39 点击:2415 好评:105

    拉电流和灌电流是衡量电路输出驱动能力(注意:拉、灌都是对输出端而言的,所以是驱动能力)的参数,这种说法一般用在数字电路中。 这里首先要说明,芯片手册中的拉、灌电流是...

  • [测试理论] 永不改变的PCB设计黄金法则 日期:2018-05-24 09:32:57 点击:1270 好评:70

    电子设计工程师在使用设计软件进行PCB布局设计及商业制造时应牢记并践行的十条最有效的设计法则。工程师无需按时间先后或相对重要性依次执行这些法则,只需全部遵循便可极大地...

  • [测试基础理论] DFT,可测试性设计--概念理解 日期:2018-05-11 10:29:23 点击:2139 好评:122

    工程会接触DFT。需要了解DFT知识,但不需要深入。 三种基本的测试(概念来自参考文档): 1. 边界扫描测试;boundary scan test。测试目标是IO-PAD,利用jtag接口互连以方便测试。(jtag接口...

  • [测试基础理论] 工程师必须搞清DCDC和LDO的区别 日期:2018-05-09 10:28:52 点击:2112 好评:134

    LDO:LOW DROPOUT VOLTAGE LDO(是low dropout voltage regulator的缩写,整流器) 低压差线性稳压器,故名思意,为线性的稳压器,仅能使用在降压应用中。也就是输出电压必需小于输入电压。 优点:...

  • [测试理论] 集成电路中测试概述(二) 日期:2018-05-07 14:42:06 点击:1630 好评:62

    这篇文章主要讲一下基于扫描路径的可测性设计。 对于一个组合逻辑的电路,电路中的故障可以通过输入端口施加向量进行激励。而对于一个复杂、端口有限的时序电路,只能采用基于...

  • [测试基础理论] 射频测试基础——网络分析与网络分析仪 日期:2018-05-07 10:56:32 点击:1522 好评:65

    若干电气元件相互连接形成的系统叫做网络。网络可以作为电路的代名词,网络分析就是电路分析,只是平常很少这样说,由此增添了几分神秘色彩。到了射频通信领域,可以把任何具...

  • [测试基础理论] 集成电路中的测试概述(一) 日期:2018-05-03 10:00:57 点击:1794 好评:122

    这篇文章主要讲一下芯片设计中测试环节以及相关的概念。芯片设计中的测试分为以下几类: 1)验证:在芯片量产之前,验证设计是否正确和符合规范。在验证时,主要进行功能测试...

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